2017年10月，赛默飞在“2017全国电子显微学学术年会”举办期间展出全新高效灵活、更适合材料科学研究的Thermo Scientific™ Talos™ F200i场发射透射电子显微镜（S/TEM），并进行现场演示[1]。
7月，赛默飞并发布三款用于半导体失效分析工作流程的全新产品。新型Helios G4等离子聚焦离子束（FIB）系统可对各类半导体器件进行逆向剥层处理，并提供超高分辨率扫描电子显微镜（SEM）分析。新型flexProber纳米探针量测系统可用于快速电性失效分析的应用。它能对半导体晶片在互连导线和晶体管级别上的故障位置，做出准确的定位。新型Themis S透射电子显微镜（TEM）用在最具挑战性的半导体器件上，可提供原子级分辨率的成像和高产率的元素分析。
6月，赛默飞宣布推出新型Thermo ScientificTMISQ EC单四极杆质谱仪和新一代Thermo ScientificTMMAbPacTM RP 1mm HPLC专用色谱柱。ISQ EC单四极杆质谱仪能与现有的离子色谱（IC）或高效液相色谱（HPLC）系统无缝集成，为用户提供出色的小分子敏感性和质量确认。新一代RP 1mm色谱柱则可提供单克隆抗体、片段、变体、抗体药物偶联物和蛋白质的高性能反相色谱表征所需的分辨率和鲁棒性[2]。
6月，赛默飞推出首个完全一体化的临床质谱分析仪Cascadion，它是将临床分析仪的易用性与液相色谱-串联质谱的选择性和灵敏度结合在一起的液相色谱-串联质谱（LC-MS/MS）[3]。
（李泽霞）
摘自《科学仪器前瞻与实践 2018 年第 1 期》